鼎陽科技發(fā)布SNA5000X系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
發(fā)布時(shí)間：
2020-12-18 
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鼎陽科技正式推出8.5GHz、4端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀SNA5000X系列，具備S參數(shù)測量，平衡-不平衡測試，時(shí)域分析，眼圖分析等功能。 
2020年12月18日，鼎陽科技正式發(fā)布SNA5000X系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（Vector Network Analyzer），其測量頻率高達(dá)8.5GHz,支持4端口S參數(shù)測量，差分(平衡)測量，時(shí)域測量，濾波器插入損耗、帶寬、Q值等一鍵測量，支持端口阻抗轉(zhuǎn)換、端口擴(kuò)展功能，支持極限測試、紋波測試功能，支持夾具仿真和去嵌入功能，支持線性頻率掃描、對數(shù)頻率掃描、分段頻率掃描、線性功率掃描方式，支持SOLT、SOLR、TRL、Response、Enhanced Response等校準(zhǔn)方法，可廣泛應(yīng)用于濾波器，雙工器，天線，有源器件，射頻線纜等領(lǐng)域的研發(fā)，生產(chǎn)制造。
低噪聲，高動(dòng)態(tài)范圍
系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍是VNA一個(gè)非常重要的指標(biāo)，它是VNA源的最大輸出功率與測試端口本底噪聲的差值。SNA5000X的動(dòng)態(tài)范圍可達(dá)125dB@10Hz IFBW，接收機(jī)噪底-125 dBm/Hz，可適用于對動(dòng)態(tài)范圍要求比較高的測試場景，比如同時(shí)測量濾波器的通帶和帶外抑制性能。
S參數(shù)測試/平衡-不平衡測試
SNA5000X系列支持在多個(gè)窗口添加多條跡線進(jìn)行全4端口S參數(shù)測試，并且具備多種顯示格式，比如Log Mag，Lin Mag，Smith，Phase，Delay，Smith，SWR，Polar等，可以方便快捷地分析被測物的傳輸系數(shù)，反射系數(shù)，駐波比，阻抗匹配，相位，延時(shí)等參數(shù)。在生產(chǎn)線驗(yàn)證天線，濾波器等的特性時(shí)，還可以保存參考跡線或者添加Limit模板進(jìn)行通過失敗測試，有利于提高生產(chǎn)效率。
SNA5000X系列還支持端口阻抗變換功能，比如在測試有源差分放大器時(shí)，可將輸入輸出端口進(jìn)行阻抗變換，從而進(jìn)行差分（平衡）測量（比如Scc，Sdd，Scd，Sdc等參數(shù)）。此功能還可應(yīng)用于差分線纜等其他差分類測試。
另外，SNA5000X系列還支持TDR時(shí)域反射計(jì)測量功能，可在時(shí)域?qū)鬏斁€的特征阻抗，時(shí)延等參數(shù)進(jìn)行分析。
眼圖可以反映信號鏈路上傳輸?shù)臄?shù)字信號的整體特征，從中觀察出碼間串?dāng)_和噪聲的影響，進(jìn)而估計(jì)系統(tǒng)的優(yōu)劣程度。因此，眼圖分析是高速系統(tǒng)信號完整性分析的核心。SNA5000X搭載了眼圖功能，為需要對高速信號進(jìn)行時(shí)域分析的客戶節(jié)省了大量成本和時(shí)間。
校準(zhǔn)件
校準(zhǔn)是VNA進(jìn)行可靠測量前必須進(jìn)行的步驟。鼎陽科技目前可提供8種SOLT機(jī)械校準(zhǔn)件，分為經(jīng)濟(jì)級校準(zhǔn)件和精密級校準(zhǔn)件。校準(zhǔn)頻率范圍涵蓋DC~9GHz，接口類型包含SMA和N型。并且SNA5000X系列還可支持其他廠家的校準(zhǔn)件及客戶自定義校準(zhǔn)件的導(dǎo)入，從而保護(hù)客戶對校準(zhǔn)件的投資。
SNA5000X系列包含SNA5052X, SNA5082X, SNA5054X,SNA5084X共4個(gè)型號，測量頻率范圍涵蓋9kHz~4.5GHz/8.5GHz,支持2端口和4端口S參數(shù)測量，具備12.1英寸觸摸屏，支持外接鼠標(biāo)鍵盤操作，擁有友好的人機(jī)交互界面。相比傳統(tǒng)的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，體積更小，重量更輕，為客戶節(jié)省了大量的實(shí)驗(yàn)室及生產(chǎn)線空間。SNA5000X系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀憑借其豐富的功能及優(yōu)秀的交互體驗(yàn)，廣泛適用于公司研發(fā)，生產(chǎn)制造，研究院所等場景。
低噪聲，高動(dòng)態(tài)范圍
S參數(shù)測試/平衡-不平衡測試
SNA5000X系列還支持端口阻抗變換功能，比如在測試有源差分放大器時(shí)，可將輸入輸出端口進(jìn)行阻抗變換，從而進(jìn)行差分（平衡）測量（比如Scc，Sdd，Scd，Sdc等參數(shù)）。此功能還可應(yīng)用于差分線纜等其他差分類測試。
時(shí)域分析功能及眼圖功能
在微波射頻領(lǐng)域，如何有效消除有害的測試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)。比如在對SMD器件進(jìn)行測試時(shí)需要特定的測試夾具實(shí)現(xiàn)測試儀器測試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接，導(dǎo)致測試結(jié)果中包含了測試夾具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除測試夾具影響的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端口阻抗轉(zhuǎn)換，去嵌入，適配器移除等。另外，SNA5000X系列還支持TDR時(shí)域反射計(jì)測量功能，可在時(shí)域?qū)鬏斁€的特征阻抗，時(shí)延等參數(shù)進(jìn)行分析。
眼圖可以反映信號鏈路上傳輸?shù)臄?shù)字信號的整體特征，從中觀察出碼間串?dāng)_和噪聲的影響，進(jìn)而估計(jì)系統(tǒng)的優(yōu)劣程度。因此，眼圖分析是高速系統(tǒng)信號完整性分析的核心。SNA5000X搭載了眼圖功能，為需要對高速信號進(jìn)行時(shí)域分析的客戶節(jié)省了大量成本和時(shí)間。
校準(zhǔn)件
SNA5000X系列包含SNA5052X, SNA5082X, SNA5054X,SNA5084X共4個(gè)型號，測量頻率范圍涵蓋9kHz~4.5GHz/8.5GHz,支持2端口和4端口S參數(shù)測量，具備12.1英寸觸摸屏，支持外接鼠標(biāo)鍵盤操作，擁有友好的人機(jī)交互界面。相比傳統(tǒng)的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，體積更小，重量更輕，為客戶節(jié)省了大量的實(shí)驗(yàn)室及生產(chǎn)線空間。SNA5000X系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀憑借其豐富的功能及優(yōu)秀的交互體驗(yàn)，廣泛適用于公司研發(fā)，生產(chǎn)制造，研究院所等場景。
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